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高纯碳化硅 微量元素的测定

时间:2020-01-06 分类: 行业标准 > 其他标准 > 发布: 资料分享网
适用范围:
本标准规定了采用电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-OES)法和电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)法测定高纯碳化硅中微量元素含量的方法。
本标准适用于碳化硅质量分数含量大于或等于99.9%的高纯碳化硅材料中铝、砷、钙、铬、铜、铁、汞、钾、镁、锰、钠、镍、铅、硫、钛、锌等16种元素的测定。各元素的测定范围见表1(以质量分数计)。
基本信息
标准号:GB/T 37254-2018
标准名称:高纯碳化硅 微量元素的测定
英文名称:High purity silicon carbide—Determination of trace elements
标准状态:现行
发布日期:2018-12-28
实施日期:2019-09-01
出版语种:中文简体

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